近場探頭套件EM5030主要用于電子產品的電磁場測量，實現干擾源快速位，多種形狀的探頭，寬頻率范圍，可以完成多種的電磁場測試任務。配套使用的放大器，增益約20dB，可提高系統測試靈敏度！
發布日期：2019-06-13
近場探頭EM5030
近場探頭EM5030主要用于電子產品的電磁場測量，實現干擾源快速位，多種形狀的探頭，寬頻率范圍，可以完成多種的電磁場測試任務。配套使用的放大器，增益約20dB，可提高系統測試靈敏度！廣泛應用于檢測器件或者是表面的磁場方向及強度；機箱、線纜、PCB模塊等磁場泄露情況；甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線，從而判斷干擾產生的原因，提高產品設計水平，縮短產品開發周期。
近場探頭通過移動探頭可檢測磁場方向和分布，找出干擾源，提高EMC整改效率。具有寬頻率范圍，多種探頭，可以滿足多種電磁場測試任務，其中的無源探頭可匹配頻譜儀/接收機示波器50Ω輸入端被，方便檢查磁場或電流變化。近場探頭使用方便，安裝快捷，定位干擾源。
【近場探頭產品規格】
【 前置放大器規格】
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